電纜交流耐壓試驗(yàn)的結(jié)果如何判斷
電纜交流耐壓試驗(yàn)結(jié)果的判斷主要依據(jù)以下幾個(gè)方面：
合格標(biāo)準(zhǔn)
- 絕緣擊穿情況：如果在試驗(yàn)過(guò)程中，電纜沒(méi)有發(fā)生絕緣被高電壓會(huì)貫穿的現(xiàn)象，即沒(méi)有出現(xiàn)絕緣擊穿，這是電纜絕緣性能基本合格的重要標(biāo)志。一旦發(fā)生絕緣擊穿，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)電路短路，電流急劇增大，試驗(yàn)設(shè)備通常會(huì)因過(guò)流保護(hù)動(dòng)作而中斷試驗(yàn)。例如，在試驗(yàn)過(guò)程中聽(tīng)到明顯的放電聲且伴隨著試驗(yàn)電壓突然下降至零，很大可能是發(fā)生了絕緣擊穿。
- 局部放電量：
- 標(biāo)準(zhǔn)值判斷：電纜應(yīng)在試驗(yàn)電壓下保持局部放電量不超過(guò)規(guī)定值。不同類(lèi)型、電壓等級(jí)和規(guī)格的電纜，其局部放電量的合格標(biāo)準(zhǔn)不同。一般由相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)（如國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或設(shè)備制造商規(guī)定）來(lái)確定。例如，對(duì)于中壓交聯(lián)聚乙烯電纜，在試驗(yàn)電壓下局部放電量可能要求不超過(guò)5pC。
- 測(cè)量方法及設(shè)備：局部放電量的檢測(cè)需要使用專(zhuān)業(yè)的局部放電檢測(cè)設(shè)備，常見(jiàn)的有脈沖電流法檢測(cè)設(shè)備、超聲法檢測(cè)設(shè)備和無(wú)線(xiàn)電干擾電壓法檢測(cè)設(shè)備等。這些設(shè)備能夠在試驗(yàn)過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電纜的局部放電情況，并準(zhǔn)確測(cè)量放電量。
- 試驗(yàn)后絕緣電阻：試驗(yàn)結(jié)束后，電纜的絕緣電阻需要保持在正常范圍內(nèi)。絕緣電阻的測(cè)量可使用絕緣電阻表（兆歐表），測(cè)量結(jié)果反映了電纜絕緣材料對(duì)電流的阻礙能力。正常的絕緣電阻值能夠說(shuō)明電纜在經(jīng)過(guò)高電壓試驗(yàn)后，其絕緣材料的基本性能未受損害。一般來(lái)說(shuō)，如果絕緣電阻值與試驗(yàn)前相比沒(méi)有明顯下降，且符合電纜的額定絕緣電阻標(biāo)準(zhǔn)，可視為正常。
異常情況分析
- 絕緣擊穿原因分析：
- 電纜質(zhì)量問(wèn)題：電纜在生產(chǎn)過(guò)程中可能存在內(nèi)部雜質(zhì)、氣隙、絕緣層厚度不均勻等缺陷，這些問(wèn)題在交流耐壓試驗(yàn)的高電壓作用下，容易引發(fā)絕緣擊穿。例如，制造過(guò)程中混入的金屬顆粒會(huì)導(dǎo)致局部電場(chǎng)強(qiáng)度過(guò)高，超出絕緣材料的耐受極限。
- 安裝缺陷：電纜敷設(shè)和終端頭、中間接頭的安裝質(zhì)量對(duì)電纜絕緣性能影響很大。如果安裝過(guò)程中電纜受到過(guò)度彎曲、拉伸，或者終端頭和中間接頭的密封不良、連接不緊密，在試驗(yàn)電壓下可能會(huì)造成絕緣擊穿。比如，電纜接頭處的導(dǎo)體連接不緊密，會(huì)在局部產(chǎn)生過(guò)高的電阻和熱量，進(jìn)而損壞絕緣層導(dǎo)致?lián)舸?/p>
- 受潮或老化：電纜長(zhǎng)期處于潮濕環(huán)境中，水分會(huì)滲透到絕緣材料內(nèi)部，降低絕緣性能。此外，電纜隨著使用年限的增加，絕緣材料會(huì)逐漸老化，表現(xiàn)為絕緣性能下降、變硬變脆等。在交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，受潮或老化的電纜更容易出現(xiàn)絕緣擊穿現(xiàn)象。
- 局部放電量過(guò)大原因分析：
- 絕緣內(nèi)部缺陷：電纜絕緣材料內(nèi)部存在空洞、雜質(zhì)等缺陷時(shí)，會(huì)在局部形成電場(chǎng)畸變，從而導(dǎo)致局部放電量增大。這些內(nèi)部缺陷可能是在生產(chǎn)過(guò)程中形成的，也可能是由于電纜在運(yùn)行中受到外力擠壓、振動(dòng)等因素造成的。
- 外部干擾：試驗(yàn)環(huán)境中的電磁干擾也可能影響局部放電量的測(cè)量結(jié)果，導(dǎo)致測(cè)量值偏大。例如，附近的高壓設(shè)備、無(wú)線(xiàn)電發(fā)射塔等產(chǎn)生的電磁信號(hào)可能被局部放電檢測(cè)設(shè)備誤判為電纜的局部放電信號(hào)。為了排除外部干擾，試驗(yàn)時(shí)通常會(huì)采取屏蔽措施，如使用屏蔽電纜連接檢測(cè)設(shè)備、在試驗(yàn)場(chǎng)地周?chē)O(shè)置屏蔽網(wǎng)等。
- 試驗(yàn)后絕緣電阻異常原因分析：
- 試驗(yàn)過(guò)程中的損傷：如果在試驗(yàn)電壓上升或下降過(guò)程中，電壓變化速率過(guò)快，可能會(huì)對(duì)電纜絕緣造成損傷，導(dǎo)致試驗(yàn)后絕緣電阻下降。此外，在試驗(yàn)過(guò)程中若發(fā)生局部放電或輕微的絕緣擊穿未被及時(shí)發(fā)現(xiàn)，也可能影響試驗(yàn)后絕緣電阻的測(cè)量結(jié)果。
- 電纜本身的問(wèn)題：電纜本身存在的潛在問(wèn)題，如絕緣材料老化、受潮等，在試驗(yàn)前可能未全暴露出來(lái)，但經(jīng)過(guò)交流耐壓試驗(yàn)的高電壓作用后，這些問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致絕緣電阻異常。
